| 1) 浸透探傷試験(PT) |
肉眼で検出することのできない微細な表面きずに液体を浸み込ませ、この浸み込んだ液体を表面に吸い出すと同時に表面に拡がらせ、大きな液体のにじみ模様とする毛細管現象を利用して見やすい状態にし、きずを検出する方法。 |
| 2) 磁粉探傷試験(MT) |
強磁性体である試験体に磁束を流し磁化させ、磁粉を試験面に散布し、きず部に吸着されて形成した磁粉模様により表面あるいは表層部に存在するきずを検出する方法。 |
| 3) 超音波試験(UT) |
試験体の表面から内部に超音波を伝搬させたとき、きずがあると内部で反射されて戻ってくることを利用して、きずを検出する方法。きずの位置は送信された超音波が受信されるまでの時間から測定できる。 |
| 4) 放射線透過試験(RT) |
試験体に放射線を照射した際に、きず部と健全部における透過放射線の強さの差によって写真フィルムに生じる黒化度の差からきずを像として検出する方法。試験体の内部に存在するきずの検出に適している。
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